Korrelative Elektronen- und Lichtmikroskopie
Bilddokumentation
Kombinierte REM-EDX-, XRD- und Raman-Datensätze zur Mineral-/Phasenbestimmung
Rasterelektronenmikroskopie und REM-EDX am Hitachi S3700N: EDX-Mapping und standardlose EDX Messungen.
Einkristalldiffraktometer Oxford XCalibur (CuKa): Einkristallstrukturbestimmung und Pseudo Gandolfi Pulverdiffraktogramme von polykristallinen Proben
Bragg Brentano Benchtop Diffraktometer: Rigaku Miniflex Gen. 6 600 W mit 1D D/tex Ultra Detektor
Raman-Spektroskopie: Horiba Mikro-Raman Spektrometer mit 532nm, 632nm und 785nm Laser zur Molekül- und Fingerprint-Spektroskopie
Mineralanalytik Eu - Inhaber Joy Desor M. Sc. Physics - Am Joseph 21, 61273, Wehrheim, Deutschland
Wir nutzen Cookies auf unserer Website. Einige von ihnen sind essenziell für den Betrieb der Seite, während andere uns helfen, diese Website und die Nutzererfahrung zu verbessern (Tracking Cookies). Sie können selbst entscheiden, ob Sie die Cookies zulassen möchten. Bitte beachten Sie, dass bei einer Ablehnung womöglich nicht mehr alle Funktionalitäten der Seite zur Verfügung stehen.